Helpi Optics – Autoryzowany dystrybutor marki Olympus
CIQTEK HEM6000
Mikroskop CIQTEK HEM6000 oferuje zaawansowane technologie, takie jak wysokiej jasności działo elektronowe z dużą wartością prądu wiązki, szybki system odchylania wiązki elektronowej, wbudowane w stolik spowalnianie wiązki wysokim napięciem, dynamiczne sterowanie osią optyczną oraz immersyjny obiektyw z soczewką elektromagnetyczno-elektrostatyczną, aby osiągnąć wysoką szybkość akwizycji obrazu przy jednoczesnym zachowaniu wysokiej rozdzielczości obrazowania.
Zautomatyzowany proces obsługi mikroskopu został zaprojektowany z myślą o zastosowaniach wymagających bardziej wydajnego i inteligentnego obrazowania dużych obszarów próbki z wysoką rozdzielczością. Szybkość obrazowania jest ponad pięciokrotnie większa niż w przypadku konwencjonalnego skaningowego mikroskopu elektronowego z emisją polową (FESEM).
Specyfikacja:
| CIQTEK FESEM SEM5000X | HEM6000-SEMI | HEM6000-BIO | HEM6000-LITE | |
| Optyka
elektronowa |
Źródło | Działo elektronowe z emisją polową Schottky’ego) | ||
| Rozdzielczość w wysokiej próżni | 1,5 nm / 1 kV (SE) | 1,8 nm / 1 kV (BSE) | 1,5 nm / 1 kV (BSE) | |
| Zakres napięcia przyspieszającego | od 0,1 kV do 30 kV
(tryb deceleracji) |
od 6 kV do 30 kV | od 6 kV do 30 kV | |
| Zakres powiększenia | 66– 1 000 000x | |||
| Soczewka obiektywu | Obiektyw immersyjny z soczewką elektromagnetyczno-elektrostatyczną | |||
| Deflektor elektrostatyczny | 5 stopniowy | 4 stopniowy | 4 stopniowy | |
| Komora | Kamera | Kamera monitorująca głównej komory; kamera monitorująca komory załadunkowej | ||
| Maksymalna wielkość próbki | Próbka o średnicy 4 cali | |||
| Stolik próbki | X, Y ≥ 110 mm,
Z ≥ 16 mm Automatyczna wymiana próbki
|
|||
| Czytsczenie komory załadowczej | Zautomatyzowany system czyszczenia nisko reaktywną plazmą. | |||
| Akwizycja i przetwarzanie obrazów | Czas przebywania wiązki w punkcje | 10 ns/piksel | ||
| Szybkość akwizycji | *100 M pikseli/s | |||
| Rozmiar obrazu | 16 K*16 K | |||
| Detektory | Nisko kątowy chowany detektor elektronów wstecznie rozproszonych
|
Opcja
|
Brak | Standard |
| Nisko kątowy detektor elektronów wstecznie rozproszonych, zamontowany na dole
|
Opcja
|
Standard | Brak | |
| Detektor wewnątrzkolumnowy | Standard | Opcja | Opcja | |
| Wewnątrzkolumnowy detektor elektronów wstecznie rozproszonych pod wysokim kątem | Opcja | Opcja | Opcja | |
| Piezoelektryczny stolik próbki | Opcja | Opcja | Opcja | |
| Tryb wysokiej rozdzielczości z dużym polem widzenia (SW)
|
Opcja | Opcja | Opcja | |
| Redukcja szumów AI; Łączenie dużych obszarów obrazu (Large Area Field Stitching); Rekonstrukcja 3D
|
Opcja | Opcja | Opcja | |
| Akcesoria | Śluza boczna 6” | Opcja | Opcja | Opcja |
| Panel sterowania i trackball | Opcja | Opcja | Opcja | |
| Aktywny system izolacji antywibrazyjnej | Opcja | Opcja | Opcja | |
| Obsługa | Nawigacja | Nawigacja optyczna na obrazie, nawigacja uproszczona, trackball (opcja)
|
||
| Funkcje automatyczne | Automatyczna regulacja jasności i kontrastu, automatyczne ostrzenie (autofokus) oraz automatyczne ustawienie astygmatyzmu | |||