BTL Polska Sp. z o.o.
BTL Polska Sp. z o.o.
Adres: Leonidasa 49, 02-239 Warszawa
Telefon: 22 667 02 76
WWW: https://www.btlnet.pl/

Podgląd wizytówki
INTIMEX
INTIMEX sp. z o.o. sp. k.
Adres: Egejska 19/39, 02-764 Warszawa
Telefon: +48 22 6687465
WWW: https://intimex.com.pl/

Podgląd wizytówki
Dräger Polska
Dräger Polska Sp. z o.o.
Adres: Posag 7 Panien 1, 02-495 Warszawa
Telefon: 22 243 06 58
WWW: https://www.draeger.com/pl_pl/Home

Podgląd wizytówki
Mindray
Mindray Medical Poland
Adres: Cybernetyki 9, 02-677 Warszawa
Telefon: 22 463 80 80
WWW: www.mindray.com

Podgląd wizytówki
MIRO
MIRO Sp. z o.o.
Adres: Mińska 25B lok U1, 03-808 Warszawa
Telefon: 22 230 20 40
WWW: https://miro-med.pl/

Podgląd wizytówki
SONOSCAPE MEDICAL CORP.
SONOSCAPE MEDICAL CORP.
Adres: Guangming District, Guangdong, 518107 Shenzhen
Telefon: +48 784 894 276
WWW: www.sonoscape.com

Podgląd wizytówki
Intelimedical
Intelimedical Poland Sp. z o.o.
Adres: ul. Kasprowicza 4, 10-220 Olsztyn
Telefon: +48 22 599 42 23
WWW: https://intelimedical.pl/

Podgląd wizytówki

CIQTEK SEM3200 / SEM3300


CIQTEK SEM3200 / SEM3300

CIQTEK SEM3200

Mikroskop elektronowy SEM3200 firmy CIQTEK to doskonały, uniwersalny skaningowy mikroskop elektronowy z włóknem wolframowym, charakteryzujący się wybitnymi możliwościami. Unikalna konstrukcja działa elektronowego z podwójną anodą zapewnia wysoką rozdzielczość oraz poprawia stosunek sygnału do szumu przy niskich napięciach przyspieszających. SEM 3200 oferuje szerokie możliwość obrazowania próbek zarówno w wysokiej oraz w niskiej próżni a także szeroką gamę akcesoriów dodatkowych co czyni go wszechstronnym systemem pomiarowym.

Specyfikacja:

CIQTEK SEM3200
Optyka

elektronowa

Źródło wstępnie wycentrowane włókno wolframowe, układ podwójnej anody, poprawiający rozdzielczości oraz jakość obrazowania przy niskim napięciu przyspieszjącym (opcja)
Rozdzielczość w wysokiej próżni 3 nm przy 30 kV (detektor SE),

7 nm przy 3 kV (detektor SE),

4 nm przy 30 kV (detektor BSE);

 

Rozdzielczość w niskiej próżni (opcja): 3 nm przy 30 kV (detektor SE),

4 nm przy 30 kV (detektor BSE);

Zakres niskiej próżni LV 5–1000 Pa

 

Zakres napięcia przyspieszającego od 0,2 kV do 30 kV
Zakres powiększenia 1– 300 000x
Komora Porty rozszerzeń 5
Kamera Optyczna nawigacji, kamera IR do podglądu wewnątrz komory

 

Stolik próbki X, Y ≥ 125 mm,

Z ≥ 50 mm

T od -10 do 70⁰

R 360⁰

 

Detektory Standardowe Detektor elektronów wtórnych (SE), umożliwia obrazowanie w trybie SE i BSE

 

Opcjonalne Wysuwany detektor elektronów wstecznie rozproszonych (BSED)

 

Detektor elektronów wtórnych (SE) do niskiej próżni LVD

 

Energodyspersyjny spektrometr rentgenowski (EDS / EDX)

 

Detektor dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD)

 

Akcesoria Śluza boczna 4”

 

Panel sterowania i trackball

 

Sprzętowy moduł antykolizyjny

 

Obsługa Nawigacja Nawigacja optyczna na obrazie, nawigacja uproszczona, trackball (opcja)

 

Funkcje automatyczne Automatyczna regulacja jasności i kontrastu, automatyczne ostrzenie (autofokus) oraz automatyczne ustawienie astygmatyzmu

CIQTEK SEM3300

Mikroskop elektronowy SEM3300 firmy CIQTEK wyposażony w zaawansowane technologie, takie jak optyka elektronowa w układzie „Super-Tunnel”, detektory wbudowane w kolumnę (in-lens) oraz termostatowaną elektrostatyczno-elektromagnetyczną soczewkę. Zastosowanie tych rozwiązań w mikroskopie z włóknem wolframowym pozwala przekroczyć dotychczasowe ograniczenia rozdzielczości dla tego typu mikroskopów, umożliwiając analizę przy niskich napięciach przyspieszających — badania, które do tej pory były możliwe wyłącznie przy użyciu mikroskopów z emisją polową (FE-SEM).

Specyfikacja:

CIQTEK SEM3300
Optyka

elektronowa

Źródło wstępnie wycentrowane włókno wolframowe,
Optyka Układ podwójnej anody, poprawiający rozdzielczości oraz jakość obrazowania przy niskim napięciu przyspieszjącym
Elektromagnetyczna, termostatowana i chłodzona, soczewka hybrydowa
Wewnątrz kolumnowe spowalnianie wiązki
Rozdzielczość w wysokiej próżni 2,5 nm przy 15 kV (detektor SE),

4 nm przy 3 kV (detektor SE),

5 nm przy 1 kV (detektor SE);

4 nm przy 30 kV (detektor BSE);

 

Zakres napięcia przyspieszającego od 0,1 kV do 30 kV
Zakres powiększenia 1– 500 000x
Komora Porty rozszerzeń 5
Kamera Optyczna nawigacji, kamera IR do podglądu wewnątrz komory

 

Stolik próbki X, Y ≥ 125 mm,

Z ≥ 50 mm

T od -10 do 70⁰

R 360⁰

 

Detektory Standardowe Detektor wewnątrz soczewkowy

Detektor elektronów wtórnych (SE), umożliwia obrazowanie w trybie SE i BSE

 

Opcjonalne Wysuwany detektor elektronów wstecznie rozproszonych (BSED)

 

Energodyspersyjny spektrometr rentgenowski (EDS / EDX)

 

Detektor dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD)

 

Akcesoria Śluza boczna 4”

 

Panel sterowania i trackball

 

Sprzętowy moduł antykolizyjny

 

Obsługa Nawigacja Nawigacja optyczna na obrazie, nawigacja uproszczona, trackball (opcja)

 

Funkcje automatyczne Automatyczna regulacja jasności i kontrastu, automatyczne ostrzenie (autofokus) oraz automatyczne ustawienie astygmatyzmu
Powiększenie (x): 300000; 500000;
Brak akcesoriów
Brak materiałów dodatkowych

Nie wybrano pliku
Maksymalny rozmiar załącznika to 10MB.
Pole zgody na przetwarzanie danych osobowych jest wymagane.
Partner premium
Helpi-Optics
05-500 Piaseczno, Okulickiego 5F
Telefon: 571 356 575
E-mail: Wyślij wiadomość
Przedstawiciel:
Katarzyna Szczygielska
1 produkt w ofercie
Oferta Wyślij zapytanie
Partner premium
Helpi-Optics
05-500 Piaseczno
Okulickiego 5F
Telefon: 571 356 575
E-mail: Wyślij wiadomość
Przedstawiciel:
Katarzyna Szczygielska
Serwisowani producenci (2): CIQTEK, ThermoFisher Scientific
Nieautoryzowany serwis