BTL Polska Sp. z o.o.
BTL Polska Sp. z o.o.
Adres: Leonidasa 49, 02-239 Warszawa
Telefon: 22 667 02 76
WWW: https://www.btlnet.pl/

Podgląd wizytówki
INTIMEX
INTIMEX sp. z o.o. sp. k.
Adres: Egejska 19/39, 02-764 Warszawa
Telefon: +48 22 6687465
WWW: https://intimex.com.pl/

Podgląd wizytówki
Dräger Polska
Dräger Polska Sp. z o.o.
Adres: Posag 7 Panien 1, 02-495 Warszawa
Telefon: 22 243 06 58
WWW: https://www.draeger.com/pl_pl/Home

Podgląd wizytówki
Mindray
Mindray Medical Poland
Adres: Cybernetyki 9, 02-677 Warszawa
Telefon: 22 463 80 80
WWW: www.mindray.com

Podgląd wizytówki
MIRO
MIRO Sp. z o.o.
Adres: Mińska 25B lok U1, 03-808 Warszawa
Telefon: 22 230 20 40
WWW: https://miro-med.pl/

Podgląd wizytówki
SONOSCAPE MEDICAL CORP.
SONOSCAPE MEDICAL CORP.
Adres: Guangming District, Guangdong, 518107 Shenzhen
Telefon: +48 784 894 276
WWW: www.sonoscape.com

Podgląd wizytówki
Intelimedical
Intelimedical Poland Sp. z o.o.
Adres: ul. Kasprowicza 4, 10-220 Olsztyn
Telefon: +48 22 599 42 23
WWW: https://intelimedical.pl/

Podgląd wizytówki

CIQTEK SEM4000 Pro / SEM4000X


CIQTEK SEM4000 Pro / SEM4000X

CIQTEK SEM4000 Pro

Analityczny Mikroskop CIQTEK SEM4000 Pro wyposażony jest w emiter FEG (Schottky) o w wysokiej jasności i długim czasie życia. Trójstopniowa konstrukcja soczewek elektromagnetycznych oferuje znaczną przewagę w zastosowaniach analitycznych, takich jak EDS/EDX, EBSD, WDS i innych. Model ten jest standardowo wyposażony w tryb niskiej próżni oraz wysokowydajny detektor elektronów wtórnych BSED do pracy w niskiej próżni, a także w chowany detektor elektronów wstecznie rozproszonych RET-BSED, co znacznie poprawia zdolność rozdzielczą podczas obrazowania słabo przewodzących lub nieprzewodzących próbek.

Specyfikacja:

CIQTEK FESEM SEM4000 Pro
Optyka

elektronowa

Źródło Działo elektronowe z emisją polową Schottky’ego)
Rozdzielczość w wysokiej próżni 0,9 nm przy 30 kV (detektor SE),

 

Rozdzielczość w niskiej próżni 2.5 nm przy 30 kV (detektor BSE, 30 Pa),

1.5 nm przy 30 kV (detektor SE, 30 Pa);

 

Zakres napięcia przyspieszającego od 0,2 kV do 30 kV
Zakres powiększenia 1– 1 000 000x
Komora Niska próżnia Max 180 Pa
Porty rozszerzeń 20
Kamera Optyczna nawigacji, kamera IR do podglądu wewnątrz komory

 

Stolik próbki X, Y ≥ 110 mm,

Z ≥ 65 mm

T od -10 do 70⁰

R 360⁰

 

Detektory Standardowe Detektor wewnątrz soczewkowy

Detektor Everhart-Thornley ETD-LD

Detektor elektronów wstecznie rozproszonych BSED

Opcjonalne Detektory do niskiej próżni (LVD)

 

Detektor skaningowej transmisyjnej mikroskopii elektronowej (STEM)

 

Energodyspersyjny spektrometr rentgenowski (EDS / EDX)

 

Detektor dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD)

 

Akcesoria Śluza boczna 4” i 8”

 

Panel sterowania i trackball

 

Sprzętowy moduł antykolizyjny

 

Obsługa Nawigacja Nawigacja optyczna na obrazie, nawigacja uproszczona, trackball (opcja)

 

Funkcje automatyczne

Automatyczna regulacja jasności i kontrastu, automatyczne ostrzenie (autofokus) oraz automatyczne ustawienie astygmatyzmu

CIQTEK SEM4000X

Mikroskop CIQTEK SEM4000X to stabilny, wszechstronny i wydajny skaningowy mikroskop elektronowy z emisją polową (FE-SEM). Osiąga rozdzielczość 1,8 nm przy 1,0 kV i z łatwością radzi sobie z obrazowaniem wymagających próbek różnych typów. Mikroskop można wyposażyć w funkcję ultra-płynnego spowalniania wiązki, aby dodatkowo zwiększyć rozdzielczość przy niskich napięciach.

Mikroskop oferuje obrazowanie za pomocą wielu detektorów. Detektor elektronów umieszczony w kolumnie (UD) rejestruje sygnały SE i BSE, zapewniając wysoką rozdzielczość. Z kolei detektor montowany w komorze (LD) wyposażony w scyntylator półprzewodnikowy oraz fotopowielacze, oferuje wyższą czułość i wydajność, co przekłada się na doskonałą jakość obrazów stereoskopowych. Interfejs graficzny został zaprojektowany dla maksymalnego ułatwienia obsługi i oferuje funkcje automatyzujące akwizycje obrazów jak automatyczna regulacja jasności i kontrastu, szybki wyostrzanie, automatyczna korekcje astygmatyzmu, umożliwiając szybkie rejestrowanie obrazów o ultra-wysokiej rozdzielczości.

Specyfikacja:
CIQTEK FESEM SEM4000x
Optyka

elektronowa

Źródło Działo elektronowe z emisją polową Schottky’ego)
Optyka Wewnątrz kolumnowe spowalnianie wiązki UBD (opcja)
Rozdzielczość w wysokiej próżni 0,9 nm przy 30 kV (detektor SE),

1.0 nm przy 15 kV (detektor SE),

1.8 nm przy 1 kV (detektor SE);

1,5 nm przy 1 kV (UBD);

0,8 nm przy 15 kV (UBD)

 

Zakres napięcia przyspieszającego od 0,2 kV do 30 kV
Zakres powiększenia 1– 1 000 000x
Komora Porty rozszerzeń 20
Kamera Optyczna nawigacji, kamera IR do podglądu wewnątrz komory

 

Stolik próbki X, Y ≥ 110 mm,

Z ≥ 65 mm

T od -10 do 70⁰

R 360⁰

 

Detektory Standardowe Detektor wewnątrz soczewkowy UD-BSE/UD-SE

Detektor Everhart-Thornley ETD-LD

 

Opcjonalne Wysuwany detektor elektronów wstecznie rozproszonych (BSED)

 

Detektory do niskiej próżni (LVD)

 

Detektor skaningowej transmisyjnej mikroskopii elektronowej (STEM)

 

Energodyspersyjny spektrometr rentgenowski (EDS / EDX)

 

Detektor dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD)

 

Akcesoria Śluza boczna 4” i 8”

 

Panel sterowania i trackball

 

Sprzętowy moduł antykolizyjny

 

Obsługa Nawigacja Nawigacja optyczna na obrazie, nawigacja uproszczona, trackball (opcja)

 

Funkcje automatyczne Automatyczna regulacja jasności i kontrastu, automatyczne ostrzenie (autofokus) oraz automatyczne ustawienie astygmatyzmu
Powiększenie (x): 1000000;
Brak akcesoriów
Brak materiałów dodatkowych

Nie wybrano pliku
Maksymalny rozmiar załącznika to 10MB.
Pole zgody na przetwarzanie danych osobowych jest wymagane.
Partner premium
Helpi-Optics
05-500 Piaseczno, Okulickiego 5F
Telefon: 571 356 575
E-mail: Wyślij wiadomość
Przedstawiciel:
Katarzyna Szczygielska
1 produkt w ofercie
Oferta Wyślij zapytanie
Partner premium
Helpi-Optics
05-500 Piaseczno
Okulickiego 5F
Telefon: 571 356 575
E-mail: Wyślij wiadomość
Przedstawiciel:
Katarzyna Szczygielska
Serwisowani producenci (2): CIQTEK, ThermoFisher Scientific
Nieautoryzowany serwis